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Partecipazione all'ultimo Proficiency testing per l'analisi sulla silice libera cristallina organizzato dall'INAIL

Nel 2012 e nel 2013 la X-TECH ha partecipato con successo alla seconda edizione del Proficiency Testing per l'analisi XRD su Silice Libera Cristallina deposta su membrane filtranti, organizzato dalla CONTARP - INAIL (Consulenza Tecnica Accertamento Rischi e Prevenzione), un circuito di interconfronto tra 24 laboratori italiani volto a valutare l'affidabilità dei risultati forniti  e le prestazioni dei soggetti partecipanti.  Infatti, in considerazione delle evidenti implicazioni che le misure di igiene occupazionale rivestono nel processo di valutazione del rischio, il Proficiency Testing è stato progettato dall'Inail come strumento di controllo della qualità dei laboratori che effettuano servizi di analisi su campioni di polveri contenenti silice libera cristallina prelevati nell'atmosfera degli ambienti di lavoro. A tale scopo l'Inail ha consegnato, alla X-TECH e agli alti laboratori partecipanti, dei campioni incogniti da analizzare. I risultati ottenuti sono stati consegnati alla Contarp (Inail) che ha provveduto a confrontarli con i valori veri (noti unicamente alla Contarp stessa) e ad elaborarli statisticamente pubblicandoli su un report finale, mantenendo l'anonimato dei soggetti partecipanti. Dai risultati che ci sono stati consegnati dall'Inail insieme all'attestato di partecipazione, è emerso un livello di affidabilità delle misure da noi fornite complessivamente molto soddisfacente.  

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